型號:JEM 2100F廠商:日本電子株式會社
主要技術指標:
加速電壓:200KV
傾斜角(X/Y):±25°
分析最大厚度:100nm
點分辨率:0.19nm
線分辨率:0.10nm
STEM分辨率:0.20nm
主要用途:
材料內部顯微形貌、結構ag平台网上真人龙虎ag平台网上真人龙虎、晶體結構、位向和物相分析。