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型號： JEM-F200
廠商：日本電子株式會社

設備參數
  電子槍：冷場場發射電子槍
  加速電壓：20-200KV，
                    連續可調，步長50V
  束流：≥ 2.5nA @ 0.7nm Probe Size
  能量分辨率：≤ 0.3 eV
  圖像分辨率:  
    TEM點分辨率：≤ 0.23 nm
    TEM線分辨率：≤ 0.10 nm
    STEM暗場分辨率：≤ 0.16 nm
  放大倍數：
    TEM模式 ×20 - 2,000,000
    STEM模式 ×200 - 150,000,000
  標準雙傾桿傾斜角度：X/Y ≥ ± 35°/± 30°
  能量過濾分析系統:   
    能量分辨率: ≤ 0.5eV
    圖像畸變: ≤0.75%
  能譜系統：  
    探測器有效面積：≥ 2×100 mm2
    能量分辨率：≤ 133 eV
    元素檢測范圍：B-U

主要用途：

    除進行常規的材料內部顯微形貌、結構ag平台网上真人龙虎、晶體結構、高分辨成像、晶體位向和物相分析外ag平台网上真人龙虎，還可以利用3D 重構軟件對材料的三維結構進行重構；以及利用電子能量損失譜（EELS）表征不同原子及不同原子價態的分布。