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                          高分辨場發射透射電子顯微鏡
                          發布人:施安峰  發布時間:2019-12-12   瀏覽次數:180

                          型號: JEM-F200
                          廠商:日本電子株式會社


                          設備參數
                            電子槍:冷場場發射電子槍
                            加速電壓:20-200KV,
                                              連續可調ag平台网上真人龙虎,步長50V
                            束流:≥ 2.5nA @ 0.7nm Probe Size
                            能量分辨率:≤ 0.3 eV
                            圖像分辨率:  
                              TEM點分辨率:≤ 0.23 nm
                              TEM線分辨率:≤ 0.10 nm
                              STEM暗場分辨率:≤ 0.16 nm
                            放大倍數:
                              TEM模式 ×20 - 2,000,000
                              STEM模式 ×200 - 150,000,000
                            標準雙傾桿傾斜角度:X/Y ≥ ± 35°/± 30°
                            能量過濾分析系統:   
                              能量分辨率: ≤ 0.5eV
                              圖像畸變: ≤0.75%
                            能譜系統:  
                              探測器有效面積:≥ 2×100 mm2
                              能量分辨率:≤ 133 eV
                              元素檢測范圍:B-U


                          主要用途:

                              除進行常規的材料內部顯微形貌、結構、晶體結構、高分辨成像、晶體位向和物相分析外,還可以利用3D 重構軟件對材料的三維結構進行重構;以及利用電子能量損失譜(EELS)表征不同原子及不同原子價態的分布。

                           
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